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电失效分析EFA

通过对半导体元件的电性量测,可以验证其参数及特性,例如电压-电流、电容-电压特性曲线、电阻、电容等,借此以推测元件可能的故障原因,并决定后续的测试方案。 常用设备:I/V、TLP

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